maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF003247
Référence fabricant | MMF003247 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF003247 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | CEA |
MMF003247 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Linear |
Gamme de déformation | ±5% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.3% |
Longueur - Actif | 0.250" (6.35mm) |
Longueur - Motif général | 0.450" (11.43mm) |
Longueur totale | 0.55" (14.0mm) |
Largeur - Actif | 0.180" (4.57mm) |
Largeur - Schéma général | 0.180" (4.57mm) |
Largeur - globale | 0.27" (6.9mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 350°F (-75 ~ 175°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF003247 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF003247-FT |
FS-L-095-103-ST
Spectra Symbol
MMF017059
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF404066
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403472
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403206
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403112
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402184
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402103
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF323482
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
LFXP3E-3TN144I
Lattice Semiconductor Corporation
XC2S50E-6PQ208C
Xilinx Inc.
LFE2-12E-5Q208I
Lattice Semiconductor Corporation
AGLN030V2-ZCSG81I
Microsemi Corporation
LCMXO2-1200HC-4SG32I
Lattice Semiconductor Corporation
A42MX16-VQ100I
Microsemi Corporation
5SGSMD4K2F40I3N
Intel
5SGSMD6K2F40C2LN
Intel
A42MX24-2PLG84I
Microsemi Corporation
EP2AGZ350FF35I4
Intel