maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF323482
Référence fabricant | MMF323482 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF323482 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF323482 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Stacked Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 120 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.039" (1.00mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.144" (3.66mm) |
Longueur totale | 0.20" (5.1mm) |
Largeur - Actif | 0.045" (1.14mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.147" (3.73mm) |
Largeur - globale | 0.20" (5.1mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 150°F (-50 ~ 65°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF323482 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF323482-FT |
FS-L-095-103-ST
Spectra Symbol
MMF017059
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF404066
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403472
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403206
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403112
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402184
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402103
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF323482
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
LCMXO2280E-3TN144C
Lattice Semiconductor Corporation
XA6SLX25-2FTG256Q
Xilinx Inc.
XC2V250-5FGG256I
Xilinx Inc.
XC4003E-2VQ100C
Xilinx Inc.
A54SX08A-FG144
Microsemi Corporation
M1AGL1000V2-FGG484
Microsemi Corporation
APA1000-PQ208I
Microsemi Corporation
XC4VFX40-10FF672I
Xilinx Inc.
A54SX08-1FGG144
Microsemi Corporation
5SGSMD3H2F35I3L
Intel