maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF402103
Référence fabricant | MMF402103 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF402103 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C5K |
MMF402103 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Rectangular Rosette |
Gamme de déformation | ±1.5% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.5% |
Longueur - Actif | 0.014" (0.36mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.071" (1.81mm) |
Longueur totale | 0.09" (2.2mm) |
Largeur - Actif | 0.012" (0.30mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.143" (3.63mm) |
Largeur - globale | 0.15" (3.9mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 400°F (-75 ~ 205°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF402103 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF402103-FT |
FS-L-095-103-ST
Spectra Symbol
MMF017059
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF404066
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403472
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403206
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403112
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402184
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402103
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF323482
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
LCMXO2280E-4TN100C
Lattice Semiconductor Corporation
XC6SLX150T-N3FG900C
Xilinx Inc.
EP2S15F484C4N
Intel
10AX048E3F29E2LG
Intel
A42MX16-2PL84
Microsemi Corporation
LFXP20C-5FN256C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-35SE-5FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-6E-5F256I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO3LF-6900C-5BG256I
Lattice Semiconductor Corporation
10M16DAU324C8G
Intel