maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF003074
Référence fabricant | MMF003074 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF003074 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | CEA |
MMF003074 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Rectangular Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.4% |
Longueur - Actif | 0.062" (1.57mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.222" (5.64mm) |
Longueur totale | 0.32" (8.1mm) |
Largeur - Actif | 0.062" (1.57mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.420" (10.67mm) |
Largeur - globale | 0.48" (12.2mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 350°F (-75 ~ 175°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF003074 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF003074-FT |
FS-L-095-103-ST
Spectra Symbol
MMF017059
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF404066
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403472
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403206
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF403112
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402184
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402103
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF402062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF323482
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC7K70T-3FBG676E
Xilinx Inc.
XCKU035-3FFVA1156E
Xilinx Inc.
A42MX36-BGG272I
Microsemi Corporation
A3PN030-ZVQ100
Microsemi Corporation
5SGXMA4K3F35I4N
Intel
XC4028EX-2HQ208C
Xilinx Inc.
LFE3-95EA-7FN1156I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2S90F1508C5N
Intel
EPF10K40RC240-4N
Intel
5SGSMD4H3F35C2L
Intel