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Référence fabricant | HAS 300-P |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-HAS 300-P |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | HAS |
HAS 300-P Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Open Loop |
Courant - Détection | 300A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Voltage |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 50kHz |
La linéarité | ±1% |
Précision | ±1% |
Tension - Alimentation | ±15V |
Temps de réponse | 3µs |
Courant - Alimentation (Max) | 15mA |
Température de fonctionnement | -10°C ~ 80°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HAS 300-P Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | HAS 300-P-FT |
LAH 25-NP
LEM USA Inc.
LAH 100-P
LEM USA Inc.
LAH 50-P
LEM USA Inc.
LA200-P
LEM USA Inc.
LA 205-S
LEM USA Inc.
LA 150-TP
LEM USA Inc.
LA 130-P
LEM USA Inc.
LA 100-TP
LEM USA Inc.
LA 55-P
LEM USA Inc.
LA 25-NP
LEM USA Inc.
A54SX32-1TQG144M
Microsemi Corporation
XC4010E-1BG225C
Xilinx Inc.
A1020B-2PLG68C
Microsemi Corporation
A14V15A-VQ100C
Microsemi Corporation
EP1AGX35CF484C6
Intel
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
5SGSED8N2F45I2N
Intel
EP3SE260F1152I4N
Intel
LFXP6E-4F256C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-70E-5FN672C
Lattice Semiconductor Corporation