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Référence fabricant | LA 55-P |
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Numéro de pièce future | FT-LA 55-P |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | LA |
LA 55-P Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Closed Loop |
Courant - Détection | 50A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Current |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 200kHz |
La linéarité | ±0.15% |
Précision | ±0.65% |
Tension - Alimentation | ±12V ~ 15V |
Temps de réponse | 1µs |
Courant - Alimentation (Max) | 60mA |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module, Single Pass Through |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 55-P Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | LA 55-P-FT |
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
A1425A-1PQ100I
Microsemi Corporation
XC3S200AN-4FT256I
Xilinx Inc.
A54SX16-2VQG100I
Microsemi Corporation
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
10AX032H4F34E3SG
Intel
5SEEBH40I2N
Intel
XC6SLX16-N3CSG324I
Xilinx Inc.
APA300-FGG144
Microsemi Corporation
LFEC6E-4QN208C
Lattice Semiconductor Corporation
EP20K300EQI208-3
Intel