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Référence fabricant | LAH 50-P |
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Numéro de pièce future | FT-LAH 50-P |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | LAH |
LAH 50-P Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Closed Loop |
Courant - Détection | 50A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Current |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 200kHz |
La linéarité | ±0.15% |
Précision | ±0.25% |
Tension - Alimentation | ±12V ~ 15V |
Temps de réponse | 0.5µs |
Courant - Alimentation (Max) | 35mA |
Température de fonctionnement | -25°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LAH 50-P Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | LAH 50-P-FT |
HTFS 800-P
LEM USA Inc.
HTA-300-S
LEM USA Inc.
HTA 1000S
LEM USA Inc.
HO 10-P
LEM USA Inc.
HO 6-P
LEM USA Inc.
HO 25-P
LEM USA Inc.
HC2F100-SN
LEM USA Inc.
HAX 2000-S
LEM USA Inc.
HAT 1000-S
LEM USA Inc.
HAS 400-S
LEM USA Inc.
A54SX32-1TQG144M
Microsemi Corporation
XC4010E-1BG225C
Xilinx Inc.
A1020B-2PLG68C
Microsemi Corporation
A14V15A-VQ100C
Microsemi Corporation
EP1AGX35CF484C6
Intel
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
5SGSED8N2F45I2N
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EP3SE260F1152I4N
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LFXP6E-4F256C
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LFE2-70E-5FN672C
Lattice Semiconductor Corporation