maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF325170
Référence fabricant | MMF325170 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF325170 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF325170 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF325170 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF325170-FT |
MMF017782
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017806
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017867
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017922
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017972
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018061
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018157
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018167
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018297
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018343
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XCKU040-1FBVA900C
Xilinx Inc.
M2GL050TS-FCSG325I
Microsemi Corporation
A3P1000-2FGG256
Microsemi Corporation
LFE5U-45F-6BG554C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX30CF23I7N
Intel
5SGSMD5K2F40C2N
Intel
XC7VX690T-2FFG1926C
Xilinx Inc.
A3P1000L-FGG144I
Microsemi Corporation
LFXP20E-3F256I
Lattice Semiconductor Corporation
LFEC15E-4F484C
Lattice Semiconductor Corporation