maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF017782
Référence fabricant | MMF017782 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF017782 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF017782 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF017782 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF017782-FT |
MMF003253
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003254
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003263
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003270
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003271
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003359
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003361
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003367
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003368
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003668
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC7K70T-3FBG676E
Xilinx Inc.
XCKU035-3FFVA1156E
Xilinx Inc.
A42MX36-BGG272I
Microsemi Corporation
A3PN030-ZVQ100
Microsemi Corporation
5SGXMA4K3F35I4N
Intel
XC4028EX-2HQ208C
Xilinx Inc.
LFE3-95EA-7FN1156I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2S90F1508C5N
Intel
EPF10K40RC240-4N
Intel
5SGSMD4H3F35C2L
Intel