maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF003367
Référence fabricant | MMF003367 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF003367 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF003367 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF003367 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF003367-FT |
MMF001527
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001570
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001595
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Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001747
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001749
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
EX64-TQ100I
Microsemi Corporation
XC3S50AN-4FT256I
Xilinx Inc.
ICE65L01F-TVQ100C
Lattice Semiconductor Corporation
EP20K200FC484-2N
Intel
EPF10K200SFC484-3
Intel
10AX032E2F29I2LG
Intel
A42MX16-3PQ160I
Microsemi Corporation
LFE2-70E-6FN672I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO3L-6900C-6BG256I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX066K2F40E1SG
Intel