maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF001749
Référence fabricant | MMF001749 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF001749 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF001749 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF001749 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF001749-FT |
MMF003233
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003224
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
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XC4005XL-1PQ100C
Xilinx Inc.
XCV50E-8FG256C
Xilinx Inc.
APA1000-FGG896
Microsemi Corporation
10CL080YU484I7G
Intel
EP3C40F484A7N
Intel
XC7A200T-1FB484C
Xilinx Inc.
LFE2M35SE-7FN672C
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO256C-4MN100C
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO640C-4M132C
Lattice Semiconductor Corporation
EP2A40F1020C7
Intel