maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF008453
Référence fabricant | MMF008453 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF008453 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF008453 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF008453 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF008453-FT |
MMF002062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002063
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002104
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002135
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002140
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002145
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002146
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002201
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002204
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF002366
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
A54SX32A-CQ256
Microsemi Corporation
LFE3-35EA-7FTN256I
Lattice Semiconductor Corporation
10M25DAF484I6G
Intel
5SGXMA4H2F35I3N
Intel
XC6SLX9-N3CSG225I
Xilinx Inc.
A42MX09-FPQ100
Microsemi Corporation
LFE2-6E-5F256C
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2M35E-6F256I
Lattice Semiconductor Corporation
10AX115R3F40E2SG
Intel
10AX115S4F45E3SG
Intel