maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF002104
Référence fabricant | MMF002104 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF002104 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | EA |
MMF002104 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Tee Rosette |
Gamme de déformation | ±5% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.2% |
Longueur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Longueur - Motif général | 0.500" (12.70mm) |
Longueur totale | 0.61" (15.5mm) |
Largeur - Actif | 0.150" (3.81mm) |
Largeur - Schéma général | 0.150" (3.81mm) |
Largeur - globale | 0.23" (5.8mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 350°F (-75 ~ 175°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF002104 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF002104-FT |
MMF003096
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003672
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF003074
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC6SLX75-N3FGG484I
Xilinx Inc.
A54SX32A-1FGG484I
Microsemi Corporation
A3P250-2FGG256I
Microsemi Corporation
A3PN060-VQG100
Microsemi Corporation
EP20K600EFI672-2X
Intel
10M16DCF484I6G
Intel
5CEBA4F17C8N
Intel
EP4SGX360KF43I3N
Intel
EP3SE260F1152C2
Intel
LFE2M50E-5F672I
Lattice Semiconductor Corporation