maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF003671
Référence fabricant | MMF003671 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF003671 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF003671 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF003671 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF003671-FT |
MMF001628
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001733
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001738
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001746
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001747
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001749
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001750
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001791
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001853
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001917
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC2S400E-6FT256C
Xilinx Inc.
M2GL090TS-FCSG325I
Microsemi Corporation
LFE5UM-85F-7BG554I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX50CF23C8
Intel
10M04DCF256C7G
Intel
5SEE9F45I2L
Intel
EP3SL340F1760I3N
Intel
XC6VLX195T-L1FFG784I
Xilinx Inc.
XC6VHX380T-2FFG1154I
Xilinx Inc.
10AX115N3F45E2SG
Intel