maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF001282
Référence fabricant | MMF001282 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF001282 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | EA |
MMF001282 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Tee Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.2% |
Longueur - Actif | 0.062" (1.57mm) |
Longueur - Motif général | 0.133" (3.38mm) |
Longueur totale | 0.28" (7.1mm) |
Largeur - Actif | 0.075" (1.91mm) |
Largeur - Schéma général | 0.168" (4.27mm) |
Largeur - globale | 0.26" (6.6mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 350°F (-75 ~ 175°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF001282 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF001282-FT |
MMF304193
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF304353
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MMF307345
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF307353
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XCV100-6TQ144C
Xilinx Inc.
EP20K30ETC144-3
Intel
XC2V250-4FGG256C
Xilinx Inc.
M2GL050-1FG484I
Microsemi Corporation
5SGXEB6R2F40C3
Intel
5SGXMA5N2F45C3N
Intel
XCV50-6BG256C
Xilinx Inc.
AGL125V5-CSG196
Microsemi Corporation
LCMXO2-640HC-6MG132C
Lattice Semiconductor Corporation
EPF8636AQC160-3
Intel