maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF304453
Référence fabricant | MMF304453 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF304453 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF304453 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF304453 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF304453-FT |
MMF012486
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF012552
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013555
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013700
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013709
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013899
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013948
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF013981
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014093
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014120
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC6SLX150-2FG676I
Xilinx Inc.
XC4025E-4HQ304C
Xilinx Inc.
LFE2-12E-5QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
M7A3P1000-2FG256I
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-2100C-6BG324C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX110CF23C8
Intel
EP1K10FI256-2N
Intel
5SGXMABN1F45C2N
Intel
5CGXFC7C6F23C7N
Intel
EP2AGX95EF35I5N
Intel