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Référence fabricant | WSE12-3P1111 |
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Numéro de pièce future | FT-WSE12-3P1111 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | W12-3 |
WSE12-3P1111 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Through-Beam |
Distance de détection | 787.402" (20m) |
Tension - Alimentation | 10V ~ 30V |
Temps de réponse | 330µs |
Configuration de sortie | PNP |
Méthode de connexion | Cable |
Protection contre la pénétration | IP66 |
Longueur de câble | 78.74" (2m) |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | Adjustable, 5-Turn Potentiometer |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 60°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
WSE12-3P1111 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | WSE12-3P1111-FT |
WLG4-3F3234S05
SICK, Inc.
WLG4-3F3434
SICK, Inc.
WLG4-3K2232
SICK, Inc.
WLG4-3N1382
SICK, Inc.
WLG4-3P1332
SICK, Inc.
WLG4-3P1482
SICK, Inc.
WLG4-3P2132
SICK, Inc.
WLG4-3P2132S07
SICK, Inc.
WLG4-3P2182
SICK, Inc.
WLG4S-3E1134H
SICK, Inc.
LFXP6E-4TN144C
Lattice Semiconductor Corporation
XC7A100T-2FGG676C
Xilinx Inc.
XCKU11P-1FFVE1517E
Xilinx Inc.
XC6SLX100T-3FG484I
Xilinx Inc.
MPF200T-FCG484E
Microsemi Corporation
A3P250L-VQ100
Microsemi Corporation
EP4CE75F23C8N
Intel
EP3C10F256C7
Intel
5SGXEBBR2H43I2
Intel
XC5VSX50T-1FF1136C
Xilinx Inc.