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Texas Instruments SN74BCT8374ADWR

Name: SN74BCT8374ADWR
Brand: Texas Instruments
SKU: SN74BCT8374ADWR
Availability: InStock
Rating: 4.7 (457 reviews)

Numéro de pièce MFG: SN74BCT8374ADWR

quantité disponible: 16190 Pièces

Prix de référence: USD 0

Notre prix: Nous avons un gros rabais, s'il vous plaît contactez-nous

Date d'expédition: Nous pouvons expédier aujourd'hui

fabricant: Texas Instruments

Brève description: 74BCT IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Statut sans plomb / Statut RoHS: Conforme RoHS (sans plomb)

Niveau de sensibilité à l'humidité (MSL): 1 (illimité)

Code de date (D / C): Nouveau

catégorie de produit: Logic - Logique spécialisée

Stock de ressources: Distributeur Franchisé

garantie: Garantie de qualité de 360 jours

Fiche technique: SN74BCT8374ADWR.pdf

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SN74BCT8374ADWR Caractéristiques

Référence fabricant	SN74BCT8374ADWR
Numéro de pièce future	FT-SN74BCT8374ADWR
SPQ / MOQ	Contactez nous
Matériau d'emballage	Reel/Tray/Tube/Others
séries	74BCT
SN74BCT8374ADWR Statut (cycle de vie)	En stock
Statut de la pièce	Obsolete
Type de logique	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Tension d'alimentation	4.5V ~ 5.5V
Nombre de bits	8
Température de fonctionnement	0°C ~ 70°C
Type de montage	Surface Mount
Paquet / caisse	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package d'appareils du fournisseur	24-SOIC
Pays d'origine	USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN
SN74BCT8374ADWR Poids	Contactez nous
Numéro de pièce de rechange	SN74BCT8374ADWR-FT

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