maison / des produits / Circuits intégrés (CI) / Logic - Logique spécialisée / SN74BCT8373ANT
Référence fabricant | SN74BCT8373ANT |
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Numéro de pièce future | FT-SN74BCT8373ANT |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | 74BCT |
SN74BCT8373ANT Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Obsolete |
Type de logique | Scan Test Device with D-Type Latches |
Tension d'alimentation | 4.5V ~ 5.5V |
Nombre de bits | 8 |
Température de fonctionnement | 0°C ~ 70°C |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | 24-DIP (0.300", 7.62mm) |
Package d'appareils du fournisseur | 24-PDIP |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
SN74BCT8373ANT Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | SN74BCT8373ANT-FT |
SN74ABTE16246DL
Texas Instruments
SN74LVC161284DLR
Texas Instruments
SN74LV161284DL
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SN74TVC16222ADL
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SN74TVC16222ADLG4
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SN74ABTE16246DLG4
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SN74ABTE16245DLG4
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74LVCE161284DLRG4
Texas Instruments
SN74ABTE16245DLR
Texas Instruments
SN74ABTE16246DLR
Texas Instruments
AGL030V2-UCG81
Microsemi Corporation
EP1K50FC256-2N
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5SGXEA5H2F35I2N
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LCMXO2-4000ZE-2BG332I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-35EA-6FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX090N2F45E2LG
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EP4CE55F29C8
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EP3C40Q240C8N
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EP4SGX180HF35C2
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EP4SGX70HF35C4N
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