maison / des produits / Circuits intégrés (CI) / Acquisition de données - Potentiomètres numériques / N57L5125TBD50TG
Référence fabricant | N57L5125TBD50TG |
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Numéro de pièce future | FT-N57L5125TBD50TG |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | - |
N57L5125TBD50TG Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Cône | Linear |
Configuration | Potentiometer |
Nombre de circuits | 1 |
Nombre de robinets | 32 |
Résistance (Ohms) | 50k |
Interface | Up/Down (U/D, CS) |
Type de mémoire | - |
Tension - Alimentation | 2.7V ~ 5.5V |
Caractéristiques | - |
Tolérance | - |
Coefficient de température (Typ) | 30 ppm/°C |
Résistance - Essuie-glace (Ohms) (Typ) | 80 |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
Paquet / caisse | SOT-23-6 |
Package d'appareils du fournisseur | SOT-23-6 |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
N57L5125TBD50TG Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | N57L5125TBD50TG-FT |
CAT5111ZI00
ON Semiconductor
CAT5111ZI50
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CAT5112LI10
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CAT5112VI00
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CAT5112VI10
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XC3S50AN-4TQ144I
Xilinx Inc.
LFE2-12SE-6TN144C
Lattice Semiconductor Corporation
XC3S200A-5FG320C
Xilinx Inc.
XC2V6000-6FFG1517C
Xilinx Inc.
M2GL010-1FGG484
Microsemi Corporation
EP3SL200H780I4L
Intel
5SEEBF45C2L
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5SGXEA5N2F45C1N
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EP4SE820H35C3
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