maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF334626
Référence fabricant | MMF334626 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF334626 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF334626 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF334626 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF334626-FT |
MMF018343
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018577
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF018737
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
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MMF018957
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MMF019073
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF019764
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MMF019993
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF020134
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF020447
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
A3PE3000-2PQG208
Microsemi Corporation
A42MX16-2VQ100
Microsemi Corporation
EP4CE6F17I8LN
Intel
5SGSMD3E3H29I3L
Intel
10AX032H2F35I2LG
Intel
XC7VX1140T-1FLG1926C
Xilinx Inc.
A40MX04-1PQG100I
Microsemi Corporation
LFE3-35EA-7LFN672C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX090R2F40E2SG
Intel
10AX115R1F40I1SG
Intel