maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF315470
Référence fabricant | MMF315470 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF315470 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF315470 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Stacked Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.062" (1.57mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.180" (4.57mm) |
Longueur totale | 0.28" (7.2mm) |
Largeur - Actif | 0.050" (1.27mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.236" (6.00mm) |
Largeur - globale | 0.32" (8.2mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 150°F (-50 ~ 65°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF315470 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF315470-FT |
MMF016618
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016644
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016793
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
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MMF016937
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MMF017060
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Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017178
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017179
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017533
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC7S75-1FGGA484C
Xilinx Inc.
APA1000-PQ208
Microsemi Corporation
LCMXO2280E-4FTN256C
Lattice Semiconductor Corporation
A3PN060-2VQ100
Microsemi Corporation
EP3CLS150F484C7N
Intel
EP4SGX180KF40C2N
Intel
5SGXMA3E3H29I4N
Intel
APA075-TQG100I
Microsemi Corporation
A42MX16-1TQG176I
Microsemi Corporation
LFXP15E-4FN256C
Lattice Semiconductor Corporation