maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF315462
Référence fabricant | MMF315462 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF315462 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF315462 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Stacked Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.031" (0.79mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.206" (5.23mm) |
Longueur totale | 0.28" (7.1mm) |
Largeur - Actif | 0.070" (1.79mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.227" (5.77mm) |
Largeur - globale | 0.31" (8.0mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 150°F (-50 ~ 65°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF315462 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF315462-FT |
MMF016433
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016617
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016618
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MMF017060
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Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017178
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC7K70T-3FBG676E
Xilinx Inc.
XCKU035-3FFVA1156E
Xilinx Inc.
A42MX36-BGG272I
Microsemi Corporation
A3PN030-ZVQ100
Microsemi Corporation
5SGXMA4K3F35I4N
Intel
XC4028EX-2HQ208C
Xilinx Inc.
LFE3-95EA-7FN1156I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2S90F1508C5N
Intel
EPF10K40RC240-4N
Intel
5SGSMD4H3F35C2L
Intel