maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF315462
Référence fabricant | MMF315462 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF315462 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF315462 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Stacked Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.031" (0.79mm) per section |
Longueur - Motif général | 0.206" (5.23mm) |
Longueur totale | 0.28" (7.1mm) |
Largeur - Actif | 0.070" (1.79mm) per section |
Largeur - Schéma général | 0.227" (5.77mm) |
Largeur - globale | 0.31" (8.0mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 150°F (-50 ~ 65°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF315462 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF315462-FT |
MMF016433
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016617
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016618
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016644
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016793
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016794
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF016937
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017060
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017090
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF017178
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC7A200T-2FBG676I
Xilinx Inc.
LCMXO3LF-4300C-6BG324I
Lattice Semiconductor Corporation
10CL120ZF484I8G
Intel
5SGSMD5K2F40C1
Intel
5SGXMA7N3F45I3LN
Intel
EP3SL200F1152C3
Intel
LFE2-12SE-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO1200C-4M132C
Lattice Semiconductor Corporation
5CEFA9U19C7N
Intel
5CEFA7F23C8N
Intel