maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF307417
Référence fabricant | MMF307417 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF307417 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF307417 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Tee Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Longueur - Motif général | 0.243" (6.17mm) |
Longueur totale | 0.29" (7.4mm) |
Largeur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Largeur - Schéma général | 0.340" (8.64mm) |
Largeur - globale | 0.40" (10.2mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 180°F (-50 ~ 80°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF307417 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF307417-FT |
MMF014788
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014974
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014978
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Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015265
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XC2S30-6TQG144C
Xilinx Inc.
XCV200E-6FG256I
Xilinx Inc.
XC2S100-5PQ208I
Xilinx Inc.
AX250-FG256
Microsemi Corporation
5SGXEBBR1H43C2L
Intel
A40MX04-PLG44M
Microsemi Corporation
XC6VLX240T-2FFG1759I
Xilinx Inc.
XC2V6000-5FF1152I
Xilinx Inc.
M1AGL1000V2-CSG281I
Microsemi Corporation
A3P1000-FGG144T
Microsemi Corporation