maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF307417
Référence fabricant | MMF307417 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF307417 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF307417 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Tee Rosette |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Longueur - Motif général | 0.243" (6.17mm) |
Longueur totale | 0.29" (7.4mm) |
Largeur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Largeur - Schéma général | 0.340" (8.64mm) |
Largeur - globale | 0.40" (10.2mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 180°F (-50 ~ 80°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF307417 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF307417-FT |
MMF014788
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014974
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014978
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014980
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014982
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015013
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015133
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015190
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015250
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015265
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XCV50-4TQ144I
Xilinx Inc.
A54SX08A-FG144
Microsemi Corporation
A54SX72A-1CQ256M
Microsemi Corporation
EP1K100FC484-3
Intel
5SGXMBBR2H43C3N
Intel
XC7VX485T-3FFG1158E
Xilinx Inc.
XC7VX980T-L2FFG1926E
Xilinx Inc.
LFE2-50SE-5F672C
Lattice Semiconductor Corporation
10AX027E2F27I1SG
Intel
EPF10K50EQC208-2N
Intel