maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF307385
Référence fabricant | MMF307385 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF307385 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | C2A |
MMF307385 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Linear |
Gamme de déformation | ±3% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.6% |
Longueur - Actif | 0.060" (1.52mm) |
Longueur - Motif général | 0.179" (4.54mm) |
Longueur totale | 0.25" (6.4mm) |
Largeur - Actif | 0.050" (1.27mm) |
Largeur - Schéma général | 0.080" (2.03mm) |
Largeur - globale | 0.14" (3.6mm) |
Température de fonctionnement | -60 ~ 180°F (-50 ~ 80°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF307385 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF307385-FT |
MMF014326
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014585
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014680
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014712
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014788
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014974
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014978
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014980
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF014982
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF015013
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
LFEC3E-4TN144C
Lattice Semiconductor Corporation
XC2V250-5FGG256C
Xilinx Inc.
XC3S100E-5VQG100C
Xilinx Inc.
XA3S1400A-4FGG484Q
Xilinx Inc.
AGLN125V5-CSG81
Microsemi Corporation
A54SX72A-1PQ208M
Microsemi Corporation
EP3CLS70U484C7
Intel
5SGSED6K2F40I3L
Intel
XC5VLX50-2FFG1153I
Xilinx Inc.
5CGTFD9A5U19A7N
Intel