maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF023367
Référence fabricant | MMF023367 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-MMF023367 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | * |
MMF023367 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | - |
Gamme de déformation | - |
La résistance | - |
Tolérance de résistance | - |
Longueur - Actif | - |
Longueur - Motif général | - |
Longueur totale | - |
Largeur - Actif | - |
Largeur - Schéma général | - |
Largeur - globale | - |
Température de fonctionnement | - |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF023367 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF023367-FT |
MMF010312
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF010374
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF010533
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF010889
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF010905
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF011096
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF011449
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF011573
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF011614
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF011779
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
LFXP2-8E-6TN144I
Lattice Semiconductor Corporation
EX128-TQG100
Microsemi Corporation
XC6SLX100-L1FGG676C
Xilinx Inc.
LFE2-12E-6Q208I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CE10F17C8L
Intel
5SGSMD3E3H29C2L
Intel
A42MX24-3PLG84
Microsemi Corporation
A42MX16-2PQ160I
Microsemi Corporation
LFEC10E-4F484I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SGX360FF35C4N
Intel