maison / des produits / Capteurs, transducteurs / Jauge de déformation / MMF003157
Référence fabricant | MMF003157 |
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Numéro de pièce future | FT-MMF003157 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | CEA |
MMF003157 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Type de motif | Tee Rosette |
Gamme de déformation | ±5% |
La résistance | 350 Ohms |
Tolérance de résistance | ±0.4% |
Longueur - Actif | 0.125" (3.18mm) |
Longueur - Motif général | 0.323" (8.20mm) |
Longueur totale | 0.42" (10.7mm) |
Largeur - Actif | 0.165" (4.19mm) |
Largeur - Schéma général | 0.365" (9.27mm) |
Largeur - globale | 0.45" (11.4mm) |
Température de fonctionnement | -100 ~ 350°F (-75 ~ 175°C) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
MMF003157 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | MMF003157-FT |
MMF000937
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF000939
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF000942
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF000951
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001043
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001058
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001062
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001063
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001067
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
MMF001102
Micro-Measurements (Division of Vishay Precision G
XC6SLX150-2FG676I
Xilinx Inc.
XC4025E-4HQ304C
Xilinx Inc.
LFE2-12E-5QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
M7A3P1000-2FG256I
Microsemi Corporation
LCMXO3LF-2100C-6BG324C
Lattice Semiconductor Corporation
EP4CGX110CF23C8
Intel
EP1K10FI256-2N
Intel
5SGXMABN1F45C2N
Intel
5CGXFC7C6F23C7N
Intel
EP2AGX95EF35I5N
Intel