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Référence fabricant | LL3-DB01 |
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Numéro de pièce future | FT-LL3-DB01 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | LL3 |
LL3-DB01 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Proximity |
Distance de détection | - |
Tension - Alimentation | - |
Temps de réponse | 500µs |
Configuration de sortie | - |
Méthode de connexion | - |
Protection contre la pénétration | - |
Longueur de câble | - |
Source de lumière | - |
Type d'ajustement | - |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 70°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LL3-DB01 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | LL3-DB01-FT |
HTE18-P4C2BB
SICK, Inc.
HTE18-V3A2AG
SICK, Inc.
HTE18-V4A1BB
SICK, Inc.
HTF18-B4A2BH
SICK, Inc.
HTF18-N1G2BB
SICK, Inc.
HTF18-N4A2BB
SICK, Inc.
HTF18-P1G2AB
SICK, Inc.
HTF18-P1G2BB
SICK, Inc.
HTF18-P3A2BB
SICK, Inc.
HTF18-P3G2BB
SICK, Inc.
AT6010A-4AI
Microchip Technology
A54SX16A-TQ144M
Microsemi Corporation
XA6SLX25T-3FGG484Q
Xilinx Inc.
AGL030V2-QNG48I
Microsemi Corporation
A3P1000-1PQ208
Microsemi Corporation
M1A3P600-1PQ208I
Microsemi Corporation
EP2C50F672C8N
Intel
EP3C25F256C7
Intel
EP1AGX90EF1152I6N
Intel
LFE2-6E-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation