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Référence fabricant | LA 25-P |
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Numéro de pièce future | FT-LA 25-P |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | - |
LA 25-P Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Closed Loop |
Courant - Détection | 25A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Current |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 200kHz |
La linéarité | ±0.15% |
Précision | ±0.91% |
Tension - Alimentation | ±12V ~ 15V |
Temps de réponse | 1µs |
Courant - Alimentation (Max) | 10mA |
Température de fonctionnement | -25°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module, Single Pass Through |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 25-P Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | LA 25-P-FT |
CR4111S-15
CR Magnetics Inc.
CR4111S-150
CR Magnetics Inc.
CR4111S-20
CR Magnetics Inc.
CR4111S-25
CR Magnetics Inc.
CR4111S-30
CR Magnetics Inc.
CR4111S-40
CR Magnetics Inc.
CR4111S-5
CR Magnetics Inc.
CR4111S-50
CR Magnetics Inc.
CR4111S-75
CR Magnetics Inc.
CR4150-0.5
CR Magnetics Inc.
M1AGL600V2-FG484I
Microsemi Corporation
A14V25A-VQG100C
Microsemi Corporation
10M50DAF484I7G
Intel
XC2VP7-7FFG896C
Xilinx Inc.
A42MX24-3PQ160
Microsemi Corporation
APA300-FGG144M
Microsemi Corporation
LFEC3E-4QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-6SE-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C4N
Intel
EP20K400CB652I8ES
Intel