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Référence fabricant | LA 125-P/SP4 |
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Numéro de pièce future | FT-LA 125-P/SP4 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | LA |
LA 125-P/SP4 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Closed Loop |
Courant - Détection | 125A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Current |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 150kHz |
La linéarité | ±0.1% |
Précision | ±0.5% |
Tension - Alimentation | ±12V ~ 15V |
Temps de réponse | 0.5µs |
Courant - Alimentation (Max) | 10mA |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 85°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module, Single Pass Through |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
LA 125-P/SP4 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | LA 125-P/SP4-FT |
HAL 400-S
LEM USA Inc.
HAL 600-S
LEM USA Inc.
HAL 100-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
HAL 500-S
LEM USA Inc.
HAL 200-S
LEM USA Inc.
HAIS 100-TP
LEM USA Inc.
HAIS 50-TP
LEM USA Inc.
XCV1000E-6FG900I
Xilinx Inc.
XA6SLX25T-3FGG484Q
Xilinx Inc.
AFS1500-FG484
Microsemi Corporation
A54SX72A-2FGG256I
Microsemi Corporation
A3PN250-1VQG100
Microsemi Corporation
5SEEBH40C4N
Intel
XC7A200T-1FB676C
Xilinx Inc.
XC7A50T-L1CSG324I
Xilinx Inc.
XC7A35T-3CPG236E
Xilinx Inc.
LFE2M100SE-5F900C
Lattice Semiconductor Corporation