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Référence fabricant | L16P010D15 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-L16P010D15 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | - |
L16P010D15 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Obsolete |
Pour mesurer | DC |
Type de capteur | Hall Effect, Open Loop |
Courant - Détection | 10A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Voltage |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 35kHz |
La linéarité | ±1% |
Précision | ±1% |
Tension - Alimentation | ±15V |
Temps de réponse | 5µs |
Courant - Alimentation (Max) | 12mA |
Température de fonctionnement | -10°C ~ 80°C |
Polarisation | Unidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
L16P010D15 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | L16P010D15-FT |
CR4150-100
CR Magnetics Inc.
CR4150-150
CR Magnetics Inc.
CR4150-50
CR Magnetics Inc.
CR4150-75
CR Magnetics Inc.
CR4160-100
CR Magnetics Inc.
CR4160-150
CR Magnetics Inc.
CR4160-40
CR Magnetics Inc.
CR4160-50
CR Magnetics Inc.
CR4160-75
CR Magnetics Inc.
CR4170-100
CR Magnetics Inc.
XC3S50-5TQG144C
Xilinx Inc.
LCMXO2-4000HE-4TG144C
Lattice Semiconductor Corporation
AT40K20AL-1BQC
Microchip Technology
LCMXO2280C-4TN100C
Lattice Semiconductor Corporation
XCKU035-L1FBVA900I
Xilinx Inc.
M1AGL1000V2-FGG484
Microsemi Corporation
A3P250-PQG208I
Microsemi Corporation
EP1K10TC100-2N
Intel
LFE3-17EA-7LFN484I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2SGX60CF780C4N
Intel