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Référence fabricant | HY 25-P |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-HY 25-P |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | HY |
HY 25-P Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | AC/DC |
Type de capteur | Hall Effect, Open Loop |
Courant - Détection | 25A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, Voltage |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC ~ 50kHz |
La linéarité | ±1% |
Précision | ±1% |
Tension - Alimentation | ±12V ~ 15V |
Temps de réponse | 3µs |
Courant - Alimentation (Max) | 10mA |
Température de fonctionnement | -10°C ~ 80°C |
Polarisation | Bidirectional |
Type de montage | Through Hole |
Paquet / caisse | Module |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HY 25-P Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | HY 25-P-FT |
HAL 50-S/SP1
LEM USA Inc.
HAL 300-S
LEM USA Inc.
HAL 50-S
LEM USA Inc.
HAL 500-S
LEM USA Inc.
HAL 200-S
LEM USA Inc.
HAIS 100-TP
LEM USA Inc.
HAIS 50-TP
LEM USA Inc.
HAIS 100-P
LEM USA Inc.
HAIS 200-P
LEM USA Inc.
HAIS 150-P
LEM USA Inc.
M1AGL600V2-FG484I
Microsemi Corporation
A14V25A-VQG100C
Microsemi Corporation
10M50DAF484I7G
Intel
XC2VP7-7FFG896C
Xilinx Inc.
A42MX24-3PQ160
Microsemi Corporation
APA300-FGG144M
Microsemi Corporation
LFEC3E-4QN208I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE2-6SE-5FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C4N
Intel
EP20K400CB652I8ES
Intel