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Référence fabricant | HTE18-P4A1AB |
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Numéro de pièce future | FT-HTE18-P4A1AB |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | SureSense |
HTE18-P4A1AB Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Proximity |
Distance de détection | 0.197" ~ 39.370" (5mm ~ 1m) |
Tension - Alimentation | 10V ~ 30V |
Temps de réponse | 500µs |
Configuration de sortie | PNP |
Méthode de connexion | Connector, M12 |
Protection contre la pénétration | IP67 |
Longueur de câble | - |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | Adjustable, Potentiometer |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 70°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HTE18-P4A1AB Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | HTE18-P4A1AB-FT |
HTB18-P3B2BAD02
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED02
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED04
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED06
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BH
SICK, Inc.
HTB18-P3D2BAD02
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD02
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD04
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD06
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AF
SICK, Inc.
XCKU5P-3FFVA676E
Xilinx Inc.
XC6SLX100T-4FGG900C
Xilinx Inc.
XCV1600E-7FG900I
Xilinx Inc.
XC7A50T-1FGG484I
Xilinx Inc.
M1A3P600-2FG256
Microsemi Corporation
A3P125-2PQ208
Microsemi Corporation
LCMXO2-4000ZE-1QN84I
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO1200E-3B256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP4SE230F29C2N
Intel
EP1S30F780I6
Intel