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Référence fabricant | HTE18-P4A1AB |
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Numéro de pièce future | FT-HTE18-P4A1AB |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | SureSense |
HTE18-P4A1AB Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Proximity |
Distance de détection | 0.197" ~ 39.370" (5mm ~ 1m) |
Tension - Alimentation | 10V ~ 30V |
Temps de réponse | 500µs |
Configuration de sortie | PNP |
Méthode de connexion | Connector, M12 |
Protection contre la pénétration | IP67 |
Longueur de câble | - |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | Adjustable, Potentiometer |
Température de fonctionnement | -40°C ~ 70°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
HTE18-P4A1AB Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | HTE18-P4A1AB-FT |
HTB18-P3B2BAD02
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED02
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED04
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BED06
SICK, Inc.
HTB18-P3B2BH
SICK, Inc.
HTB18-P3D2BAD02
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD02
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD04
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AAD06
SICK, Inc.
HTB18-P4A2AF
SICK, Inc.
XC2V1000-5FGG256C
Xilinx Inc.
XC4010XL-2PQ208I
Xilinx Inc.
A42MX36-CQ256
Microsemi Corporation
LFE3-35EA-7LFTN256C
Lattice Semiconductor Corporation
EPF6016ATC100-3
Intel
EP4CGX75DF27C7
Intel
XC7VX485T-2FFG1158I
Xilinx Inc.
AGLP125V2-CS289I
Microsemi Corporation
10AX066N4F40I3SG
Intel
EP2S90F780I4N
Intel