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Référence fabricant | GRSE18S-N2427 |
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Numéro de pièce future | FT-GRSE18S-N2427 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | GR18S |
GRSE18S-N2427 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Through-Beam |
Distance de détection | 393.701" (10m) |
Tension - Alimentation | 10V ~ 30V |
Temps de réponse | 500µs |
Configuration de sortie | NPN |
Méthode de connexion | Connector, M12 |
Protection contre la pénétration | IP67 |
Longueur de câble | - |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | Adjustable, Potentiometer |
Température de fonctionnement | -25°C ~ 55°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GRSE18S-N2427 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | GRSE18S-N2427-FT |
GL6-P7312
SICK, Inc.
GL6-P7511
SICK, Inc.
GL6G-N1211
SICK, Inc.
GL6G-N1212
SICK, Inc.
GL6G-N4211
SICK, Inc.
GL6G-N4212
SICK, Inc.
GL6G-P1211
SICK, Inc.
GL6G-P1212
SICK, Inc.
GL6G-P4211
SICK, Inc.
GL6G-P4212
SICK, Inc.
A54SX16A-1FG144I
Microsemi Corporation
AX1000-1FGG484I
Microsemi Corporation
EP3SL70F484I4
Intel
EP3C5F256A7N
Intel
EP4CE15M9C7N
Intel
XC4VFX20-11FFG672I
Xilinx Inc.
AX1000-1FGG676
Microsemi Corporation
LFE2-35E-7FN484C
Lattice Semiconductor Corporation
10M08DAU324I7G
Intel
5AGTFD7H3F35I5N
Intel