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Référence fabricant | GRSE18-P1127 |
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Numéro de pièce future | FT-GRSE18-P1127 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | GR18 |
GRSE18-P1127 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Through-Beam |
Distance de détection | 590.551" (15m) |
Tension - Alimentation | 10V ~ 30V |
Temps de réponse | 500µs |
Configuration de sortie | PNP |
Méthode de connexion | Cable |
Protection contre la pénétration | IP67 |
Longueur de câble | 78.74" (2m) |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | Adjustable, Potentiometer |
Température de fonctionnement | -25°C ~ 55°C (TA) |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
GRSE18-P1127 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | GRSE18-P1127-FT |
GL6-N4211
SICK, Inc.
GL6-N4212
SICK, Inc.
GL6-N6211
SICK, Inc.
GL6-N6212
SICK, Inc.
GL6-P1111
SICK, Inc.
GL6-P1112
SICK, Inc.
GL6-P1211
SICK, Inc.
GL6-P1212
SICK, Inc.
GL6-P3211
SICK, Inc.
GL6-P3212
SICK, Inc.
ICE40LP1K-SWG16TR
Lattice Semiconductor Corporation
LCMXO2-1200ZE-1UWG25ITR
Lattice Semiconductor Corporation
AGLN060V5-VQ100
Microsemi Corporation
5SGSMD3E2H29C2LN
Intel
XC2VP2-6FF672C
Xilinx Inc.
XC2VP50-5FFG1152I
Xilinx Inc.
A54SX16A-FGG144I
Microsemi Corporation
LFX200EB-03FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
EP2AGX190EF29I3
Intel
10AX048E2F29E1HG
Intel