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Référence fabricant | F3ET2-005-300 |
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Numéro de pièce future | FT-F3ET2-005-300 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | - |
F3ET2-005-300 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Méthode de détection | Through-Beam |
Distance de détection | 118.110" (3m) |
Tension - Alimentation | 24VDC |
Temps de réponse | 4ms |
Configuration de sortie | NPN/PNP - Dark-ON/Light-ON - Selectable |
Méthode de connexion | Connector |
Protection contre la pénétration | IEC IP65 |
Longueur de câble | - |
Source de lumière | Infrared (880nm) |
Type d'ajustement | - |
Température de fonctionnement | -10°C ~ 70°C |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
F3ET2-005-300 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | F3ET2-005-300-FT |
EL4-P2428
SICK, Inc.
EL4-P2438
SICK, Inc.
EL4-P2838
SICK, Inc.
ET3-E2215
SICK, Inc.
ET3-E2228
SICK, Inc.
ET3-E2238
SICK, Inc.
ET3-E3215
SICK, Inc.
ET3-E3238
SICK, Inc.
ET3-E4215
SICK, Inc.
ET3-E4228
SICK, Inc.
A54SX08-2TQG144
Microsemi Corporation
EPF10K50STC144-1
Intel
XC4013E-4PQ208C
Xilinx Inc.
XC7S50-1FTGB196I
Xilinx Inc.
EP20K600CB672C8
Intel
EP3SE50F484I4
Intel
10CL006ZE144I8G
Intel
EP4SE820F43C3
Intel
LFE3-70E-6FN1156C
Lattice Semiconductor Corporation
5SGXMA3H3F35C2N
Intel