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Référence fabricant | CR5211-100 |
---|---|
Numéro de pièce future | FT-CR5211-100 |
SPQ / MOQ | Contactez nous |
Matériau d'emballage | Reel/Tray/Tube/Others |
séries | CR5200 |
CR5211-100 Statut (cycle de vie) | En stock |
Statut de la pièce | Active |
Pour mesurer | DC |
Type de capteur | Hall Effect, Closed Loop |
Courant - Détection | 100A |
Nombre de canaux | 1 |
Sortie | Ratiometric, ±10 V |
Sensibilité | - |
La fréquence | DC |
La linéarité | - |
Précision | ±1% |
Tension - Alimentation | 24V |
Temps de réponse | 250ms |
Courant - Alimentation (Max) | 40mA |
Température de fonctionnement | 0°C ~ 50°C |
Polarisation | Unidirectional |
Type de montage | DIN Rail, Panel |
Paquet / caisse | Module |
- | |
Pays d'origine | USA/JAPAN/MALAYSIA/MEXICO/CN |
CR5211-100 Poids | Contactez nous |
Numéro de pièce de rechange | CR5211-100-FT |
CR4211-20
CR Magnetics Inc.
CR4211-200
CR Magnetics Inc.
CR4211-5
CR Magnetics Inc.
CR4211-50
CR Magnetics Inc.
CR4211-70
CR Magnetics Inc.
CR4220-0.5
CR Magnetics Inc.
CR4220-25
CR Magnetics Inc.
CR4220-30
CR Magnetics Inc.
CR4410-0.5
CR Magnetics Inc.
CR4410-100
CR Magnetics Inc.
XC6SLX75T-3FGG676I
Xilinx Inc.
XCKU035-1FFVA1156C
Xilinx Inc.
10M25DAF484C7G
Intel
EP3CLS100F484C8N
Intel
AFS1500-2FGG676I
Microsemi Corporation
LFXP6E-4Q208C
Lattice Semiconductor Corporation
LFXP15C-4FN256I
Lattice Semiconductor Corporation
LFE3-150EA-7FN672ITW
Lattice Semiconductor Corporation
10AX066N4F40E3SG
Intel
EP1K50QC208-3N
Intel